Сычикова Я.А.

Бердянский государственный педагогический университет

 

Самоорганизация роста пор фосфида индия  при фотоэлектрохимической обработке

в растворах кислот

 

Фосфид индия – технологически важный материал для создания лазеров, диодов, солнечных батарей. В настоящее время особое внимание уделяется изучению свойств пористого InP, так как он является очень важным материалом для создания свето-эмиссионных диодов и солнечных батарей. Площадь пористой поверхности в миллионы раз больше площади монокристалла. Это удивительное свойство позволяет оценить преимущество пористых слоев для использования их в изготовлении сенсоров и солнечных батарей. Электрохимические методы обработки полупроводников и, в частности, фосфида индия по-прежнему рассматриваются как весьма пер­спективные [1, 2]. Формирова­ние глубоких отверстий заданной формы в монокристаллическом фосфиде индия часто необходимо при изготовлении микромеханических датчиков на его основе. При этом глубина отверстия должна со­ставлять не менее нескольких десятков микрон, а уход линейных размеров по глубине должен быть минимальным. Другими сло­вами, необходимо обеспечить вертикальность стенок отверстия по всей глубине. С другой стороны, как показали исследования ме­ханизма формирования пористого InP, рост поры начинается в той точке поверхности пластины, в которой по какой-либо причине наблюдается высокая локальная концентрация дырок. При этом стенки поры остаются вертикальными до тех пор, пока не изменя­ется режим формирования или (и) структура самой пластины. Оче­видно, что необходимую локальную концентрацию дырок можно создать только в том случае, если они не являются основными но­сителями, т.е. в фосфиде индия n- типа.

В данной работе рассматривается механизм получения регулярной пористой структуры р-InP, который заключается в использовании метода фотоэлектрохимического травления. Благодаря использованию режима освещенности образцов во время анодизации становится возможным получить регулярную равномерную сетку макропор на поверхности фосфида индия р-типа.

Так как энергия кванта света (видимое излучение) больше ширины запрещенной зоны полупроводника InP (1.344 eV), то в приповерхностной зоне происходит генерация неосновных носителей, это приводит к изменению потенциала полупроводника. При поглощении света полупроводником InP р-типа в приповерхностной области образуются электроны и дырки. Из-за искривления зонной диаграммы на границе раздела «полупроводник-электролит» дырки уходят вглубь полупроводника, а электроны накапливаются на поверхности. Возникшие на поверхности электроны  взаимодействуют с монокристаллом InP. В результате на поверхности образуются свободные атомы фосфора. Образующиеся свободные атомы индия и фосфора уходят в раствор, при этом происходит процесс образования пор.

Рис.1 демонстрирует морфологию пористого образца p-InP, полученного в 5% растворе соляной кислоты при плотности тока 150 мА/см2, время травления 15мин. Размер пор составляет приблизительно 30 – 60 нм. Поры проросли по всей поверхности слитка без выделенных мест скопления. В некоторых местах можно наблюдать массивные отверстия, размером до 200 нм. На наш взгляд, подобные поры обязаны своим появлением выходу на поверхность кристалла дислокаций и микродефектов,  места возникновения которых являются благоприятными для образования пор. Методом  EDAX был установлен химический состав элементов на поверхности данного образца. По результатам этих данных можно сделать вывод, что на поверхности пористого p-InP не образовалось плотной окисной пленки, также не наблюдается наличие элементов, входящих в состав травителя. Однако во время травления была нарушена стехиометрия исходного кристалла: индий присутствует в большей концентрации, чем фосфор.

 

 

obr7-InP_x40000SEI

 

Рис.1. Морфология пористого p-InP, полученного в 5% растворе соляной кислоты при плотности тока 150 мА/см2, время травления 15мин, дополнительный режим – освещение вольфрамовой лампой.

 

          При травлении р-InP без использования режима освещения, резкого повышения анодного тока не наблюдалось. Это говорит о том, что процесс травления не сопровождался активным порообразованием. Подтверждением этого факта может служить также и морфология поверхности, снятая на СЕМ. Отсюда следует, что одним из определяющих факторов, ответственного за образование пор р-InP в растворе соляной кислоты, является использование подсветки образцов во время травления.

Литература

1. Suchikova Y.A. Morphology of porous n-InP (100) obtained by electrochemical etching in HCl solution / Y.A. Suchikova, V.V. Kidalov, G.A. Sukach // Functional Materials. – 2010. – Vol.17, №1. – P. 1 – 4.

2. Сычикова Я.А. Влияние типа аниона электролита на морфологию пористого InP, полученного методом электролитического травления / Я.А. Сычикова, В.В.Кидалов, Г.А. Сукач // Журнал нано- і електронної фізики – 2009. – Т. 1, № 4. – С. 69 – 77.