Химия и химические технологии/7. Неорганическая химия
Д.х.н., профессор Рустембеков К.Т., Шакеев С.С., Махатова Н.А., Асаинова А.Е., Джамалбаева К.Е., Жексембекова А.А.
Карагандинский государственный университет им. Е.А.
Букетова, Казахстан
Рентгенографическое
исследование теллуритов
некоторых s-f-элементов
Получение новых
материалов является важной задачей, составляющей основу научно-технического
прогресса в различных отраслях наукоемкого производства. Новые открытия в
медицине, электронике, фотонике, нано - и биотехнологиях привели в последнее
десятилетие к интенсивному развитию нового научного направления – химического
материаловедения. Соединения на основе оксидов редкоземельных металлов в силу
особенностей электронного строения лантаноидов обладают уникальным сочетанием
электрических, магнитных, тепловых, оптических и других свойств, которые могут
найти широкое использование в современной микроэлектронике и многих областях
современной техники при создании систем многофункционального назначения [1].
Многообразие указанных свойств зависит от состава, строения и способа получения
того или иного оксида.
Теллуриты s-f-элементов, в этом отношении, являются малоизученными
соединениями. Цель данной работы – синтез и исследование рентгенографических
свойств новых двойных теллуритов церия состава МеIIСеТе3О9
(МеII – Mg, Ca, Sr).
Исходными компонентами для синтеза служили
оксиды церия (IV), теллура (IV) и карбонат магния (кальция, стронция) («х.ч.») в
стехиометрическом соотношении. Синтез соединений проводили твердофазным отжигом
в три стадии при различных температурах. Смеси реагентов тщательно перетирались
в агатовой ступке, затем пересыпались количественно в алундовые тигли с крышкой
для отжига в силитовой печи. Синтез проводили следующим образом: I стадия в
течение 10 часов при температуре 400°С, II стадия 800°С – 10 часов при периодическом
перетирании в ступке; далее при 1300°С в течение 10 часов.
Образование равновесного состава соединений
контролировалось методом рентгенофазового анализа на установке ДРОН – 2,0 с
использованием CuKα – излучения, отфильтрованного Ni-фильтром (U =
30 кВ, I = 10 мА, шкала счетчика импульсов 1000 имп/с, скорость
вращения счетчика 2 град/мин., постоянная времени t
= 5 с, интервал углов 2q
от 10 до 900). Интенсивность дифракционных максимумов оценивали по
100-бальной шкале. Индицирование рентгенограмм порошка исследуемых соединений
проводили методом гомологии [2].
Результаты индицирования приведены в таблице 1. Достоверность индицирования контролировалось
удовлетворительным совпадением экспериментальных и расчетных значений 104/d2,
а также согласованностью значений рентгеновской и пикнометрической плотностей
исследуемых соединений. В качестве индифферентной жидкости при определении
пикнометрической плотности исследуемой фазы использовали тетрабромэтан марки «ч.д.а.» в пикнометрах емкостью
1,0 мл.
Таблица 1
Результаты
индицирования рентгенограмм двойных теллуритов церия
|
I/I0, % |
d, Å |
104/d2 эксп. |
hkl |
104/d2 расч. |
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
|
MgCeTe3O9 |
||||
|
39 |
4,4509 |
505 |
111 |
511 |
|
42 |
4,3992 |
517 |
111 |
511 |
|
100 |
3,1179 |
1029 |
112 |
1023 |
|
27 |
2,7029 |
1369 |
022 |
1364 |
|
64 |
1,9114 |
2737 |
004 |
2728 |
|
52 |
1,6308 |
3760 |
233 |
3750 |
|
15 |
1,5605 |
4106 |
224 |
4091 |
|
15 |
1,3523 |
5468 |
044 |
5455 |
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
|
33 |
1,2424 |
6478 |
116 |
6478 |
|
СаCeTe3O9 |
||||
|
8 |
3,2943 |
921 |
204 |
921 |
|
23 |
3,2482 |
948 |
006 |
948 |
|
14 |
3,1262 |
1023 |
214 |
1045 |
|
100 |
2,9783 |
1127 |
300 |
1127 |
|
3 |
2,8876 |
1199 |
116 |
1198 |
|
4 |
2,8116 |
1265 |
311 |
1275 |
|
3 |
2,7029 |
1369 |
303 |
1361 |
|
1 |
2,5259 |
1567 |
216 |
1572 |
|
1 |
2,4004 |
1736 |
322 |
1729 |
|
7 |
1,9886 |
2529 |
317 |
2539 |
|
2 |
1,9491 |
2632 |
0.0.10 |
2633 |
|
2 |
1,7886 |
3126 |
500 |
3122 |
|
3 |
1,7504 |
3264 |
2.1.10 |
3257 |
|
4 |
1,6973 |
3471 |
513 |
3484 |
|
7 |
1,6323 |
3753 |
3.1.10 |
3757 |
|
4 |
1,6262 |
3781 |
0.0.12 |
3792 |
|
2 |
1,5629 |
4094 |
442 |
4101 |
|
11 |
1,4915 |
4495 |
600 |
4496 |
|
3 |
1,2420 |
6483 |
713 |
6481 |
|
SrCeTe3O9 |
||||
|
6 |
3,4512 |
840 |
213 |
844 |
|
31 |
3,2573 |
943 |
006 |
937 |
|
14 |
3,1510 |
1007 |
221 |
1002 |
|
25 |
3,1229 |
1025 |
214 |
1027 |
|
100 |
3,0212 |
1096 |
300 |
1098 |
Продолжение таблицы 1
|
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
|
6 |
2,9090 |
1182 |
116 |
1181 |
|
10 |
2,8254 |
1253 |
311 |
1246 |
|
2 |
2,5153 |
1581 |
320 |
1586 |
|
2 |
2,4292 |
1695 |
322 |
1690 |
|
9 |
1,9980 |
2505 |
317 |
2496 |
|
13 |
1,9142 |
2729 |
415 |
2725 |
|
11 |
1,8128 |
3043 |
500 |
3050 |
|
6 |
1,6845 |
3524 |
520 |
3538 |
|
12 |
1,6329 |
3750 |
0.0.12 |
3750 |
|
12 |
1,5107 |
4382 |
600 |
4392 |
|
2 |
1,4915 |
4495 |
602 |
4496 |
|
2 |
1,4407 |
4818 |
527 |
4814 |
|
4 |
1,3534 |
5459 |
616 |
5452 |
|
4 |
1,2953 |
5960 |
700 |
5978 |
Как видно из данных таблицы 1 величины
экспериментальных и расчетных значений 104/d2,
рентгеновской и пикнометрической плотностей (табл. 2) удовлетворительно
согласуются между собой, что подтверждают достоверность и корректность
результатов индицирования. А также позволяет утверждать, что соединение MgCeTe3O9
кристаллизуется в кубической сингонии, а СаCeTe3O9 и
SrCeTe3O9 кристаллизуются в тетрагональной сингонии
соответственно и имеют параметры элементарных ячеек, представленные в таблице
2.
Таблица 2
Типы сингонии и параметры
элементарных ячеек теллуритов
|
Соединение |
Тип сингонии |
Параметры решетки, Å |
|
|
Z |
Плотность, г/см3 |
||
|
а |
с |
рент.. |
пикн. |
|||||
|
MgCeTe3O9 |
кубич. |
7,66 |
- |
112,36 |
449,46 |
4 |
10,10 |
9,95±0,15 |
|
СаCeTe3O9 |
тетрагон. |
8,95 |
19,49 |
195,15 |
1561,20 |
8 |
6,01 |
6,01±0,00 |
|
SrCeTe3O9 |
тетрагон. |
9,05 |
19,60 |
200,84 |
1606,71 |
8 |
6,24 |
6,21±0,05 |
На основании
вышеизложенного можно констатировать, что впервые синтезированы твердофазным
способом двойные теллуриты церия. Рентгенографически определены типы их
сингонии и параметры элементарных ячеек. Данные рентгенографических
исследований показывают, что все синтезированные соединения кристаллизуются в
структурном типе искаженного перовскита Рm3m, что
позволяет предположить о важных электрофизических свойствах соединений.
Исследование в этом направлении продолжается. Рентгенографические
характеристики новых теллуритов являются исходными материалами для включения в
фундаментальные банки данных и справочники.
Литература:
1. Третьяков Ю.Д., Брылев О.А. // Журнал Русского
химического общества. - 2000. - Т. 45. - Вып.4. - С. 10.
2. Ковба Л.М. Рентгенография в неорганической химии. – М.:
МГУ. – 1991. – С. 69.