Химия и химические технологии/7. Неорганическая химия

 

Д.х.н., профессор  Рустембеков К.Т.,  Шакеев С.С.,  Махатова Н.А., Асаинова А.Е., Джамалбаева К.Е., Жексембекова А.А.

Карагандинский государственный университет им. Е.А. Букетова, Казахстан

Рентгенографическое исследование теллуритов

некоторых s-f-элементов

 

Получение новых материалов является важной задачей, составляющей основу научно-технического прогресса в различных отраслях наукоемкого производства. Новые открытия в медицине, электронике, фотонике, нано - и биотехнологиях привели в последнее десятилетие к интенсивному развитию нового научного направления – химического материаловедения. Соединения на основе оксидов редкоземельных металлов в силу особенностей электронного строения лантаноидов обладают уникальным сочетанием электрических, магнитных, тепловых, оптических и других свойств, которые могут найти широкое использование в современной микроэлектронике и многих областях современной техники при создании систем многофункционального назначения [1]. Многообразие указанных свойств зависит от состава, строения и способа получения того или иного оксида.

Теллуриты  s-f-элементов, в этом отношении, являются малоизученными соединениями. Цель данной работы – синтез и исследование рентгенографических свойств новых двойных теллуритов церия состава МеIIСеТе3О9 (МеII – Mg, Ca, Sr).

Исходными компонентами для синтеза служили оксиды церия (IV), теллура (IV) и карбонат магния (кальция, стронция) («х.ч.») в стехиометрическом соотношении. Синтез соединений проводили твердофазным отжигом в три стадии при различных температурах. Смеси реагентов тщательно перетирались в агатовой ступке, затем пересыпались количественно в алундовые тигли с крышкой для отжига в силитовой печи. Синтез проводили следующим образом: I стадия в течение 10 часов при температуре 400°С, II стадия 800°С – 10 часов при периодическом перетирании в ступке; далее при 1300°С в течение 10 часов.

Образование равновесного состава соединений контролировалось методом рентгенофазового анализа на установке ДРОН – 2,0 с использованием CuKα – излучения, отфильтрованного Ni-фильтром (U = 30 кВ, I = 10 мА, шкала счетчика импульсов 1000 имп/с, скорость вращения счетчика 2 град/мин., постоянная времени t = 5 с, интервал углов 2q от 10 до 900). Интенсивность дифракционных максимумов оценивали по 100-бальной шкале. Индицирование рентгенограмм порошка исследуемых соединений проводили методом гомологии [2]. Результаты индицирования приведены в таблице 1. Достоверность индицирования контролировалось удовлетворительным совпадением экспериментальных и расчетных значений 104/d2, а также согласованностью значений рентгеновской и пикнометрической плотностей исследуемых соединений. В качестве индифферентной жидкости при определении пикнометрической плотности исследуемой фазы использовали тетрабромэтан марки «ч.д.а.» в пикнометрах емкостью 1,0 мл.

Таблица 1

Результаты индицирования рентгенограмм двойных теллуритов церия

I/I0, %

d, Å

104/d2 эксп.

hkl

104/d2 расч.

1

2

3

4

5

MgCeTe3O9

39

4,4509

505

111

511

42

4,3992

517

111

511

100

3,1179

1029

112

1023

27

2,7029

1369

022

1364

64

1,9114

2737

004

2728

52

1,6308

3760

233

3750

15

1,5605

4106

224

4091

15

1,3523

5468

044

5455

 

Продолжение таблицы 1

1

2

3

4

5

33

1,2424

6478

116

6478

СаCeTe3O9

8

3,2943

921

204

921

23

3,2482

948

006

948

14

3,1262

1023

214

1045

100

2,9783

1127

300

1127

3

2,8876

1199

116

1198

4

2,8116

1265

311

1275

3

2,7029

1369

303

1361

1

2,5259

1567

216

1572

1

2,4004

1736

322

1729

7

1,9886

2529

317

2539

2

1,9491

2632

0.0.10

2633

2

1,7886

3126

500

3122

3

1,7504

3264

2.1.10

3257

4

1,6973

3471

513

3484

7

1,6323

3753

3.1.10

3757

4

1,6262

3781

0.0.12

3792

2

1,5629

4094

442

4101

11

1,4915

4495

600

4496

3

1,2420

6483

713

6481

SrCeTe3O9

6

3,4512

840

213

844

31

3,2573

943

006

937

14

3,1510

1007

221

1002

25

3,1229

1025

214

1027

100

3,0212

1096

300

1098

 

Продолжение таблицы 1

1

2

3

4

5

6

2,9090

1182

116

1181

10

2,8254

1253

311

1246

2

2,5153

1581

320

1586

2

2,4292

1695

322

1690

9

1,9980

2505

317

2496

13

1,9142

2729

415

2725

11

1,8128

3043

500

3050

6

1,6845

3524

520

3538

12

1,6329

3750

0.0.12

3750

12

1,5107

4382

600

4392

2

1,4915

4495

602

4496

2

1,4407

4818

527

4814

4

1,3534

5459

616

5452

4

1,2953

5960

700

5978

 

Как видно из данных таблицы 1 величины экспериментальных и расчетных значений 104/d2, рентгеновской и пикнометрической плотностей (табл. 2) удовлетворительно согласуются между собой, что подтверждают достоверность и корректность результатов индицирования. А также позволяет утверждать, что соединение MgCeTe3O9 кристаллизуется в кубической сингонии, а СаCeTe3O9 и SrCeTe3O9 кристаллизуются в тетрагональной сингонии соответственно и имеют параметры элементарных ячеек, представленные в таблице 2.

Таблица 2

Типы сингонии и параметры элементарных ячеек теллуритов

Соединение

Тип сингонии

Параметры решетки, Å

, Å3

, Å3

Z

Плотность, г/см3

а

с

рент..

пикн.

MgCeTe3O9

кубич.

7,66

-

112,36

449,46

4

10,10

9,95±0,15

СаCeTe3O9

тетрагон.

8,95

19,49

195,15

1561,20

8

6,01

6,01±0,00

SrCeTe3O9

тетрагон.

9,05

19,60

200,84

1606,71

8

6,24

6,21±0,05

 

На основании вышеизложенного можно констатировать, что впервые синтезированы твердофазным способом двойные теллуриты церия. Рентгенографически определены типы их сингонии и параметры элементарных ячеек. Данные рентгенографических исследований показывают, что все синтезированные соединения кристаллизуются в структурном типе искаженного перовскита Рm3m, что позволяет предположить о важных электрофизических свойствах соединений. Исследование в этом направлении продолжается. Рентгенографические характеристики новых теллуритов являются исходными материалами для включения в фундаментальные банки данных и справочники.

 

Литература:

1. Третьяков Ю.Д., Брылев О.А. // Журнал Русского химического общества. - 2000. - Т. 45. - Вып.4. - С. 10.

2. Ковба Л.М. Рентгенография в неорганической химии. М.: МГУ. 1991. – С. 69.